39956
Książka
W koszyku
Instytut: IS
Indeks ISBN: 83-204-0620-X
1. Klasyfikacja, kryteria oceny i właściwości detektorów; 2. Detektory półprzewodnikowe; 3. Wykresy fazowe; 4. Technologia otrzymywania monokryształów; 5. Technologia otrzymywania warstw epitaksjalnych; 6. Defekty własne i obce domieszki; 7. Pomocnicze procesy technologiczne; 8. Właściwości fizyczne półprzewodników z wąską przerwą energetyczną; 9. Mechanizmy rekombinacji nośników; 10. Detektory z InSb i InAs; 11. Detektory z Cdx Hg?_x Te; 12. Detektory z chalkogenidków ołowiu i cyny. [g]
Status dostępności:
Czytelnia - Magazyn
Egzemplarze są dostępne wyłącznie na miejscu w bibliotece: sygn. 1446/ XXII czyt. (1 egz.)
Strefa uwag:
Uwaga dotycząca bibliografii
Bibliogr. s. 364-394
Recenzje:
Pozycja została dodana do koszyka. Jeśli nie wiesz, do czego służy koszyk, kliknij tutaj, aby poznać szczegóły.
Nie pokazuj tego więcej